應(yīng)用串并聯(lián)諧振原理進(jìn)行交流耐壓試驗(yàn)方法有哪些?
對(duì)于長(zhǎng)電纜線路、電容器、大型發(fā)電機(jī)和變壓器等電容量較大的被試品的交流耐壓試驗(yàn),需要較大容量的試驗(yàn)設(shè)備和電源,現(xiàn)場(chǎng)往往難以辦到。在此情況下,可根據(jù)具體情況,分別采用串聯(lián)、并聯(lián)諧振或串并聯(lián)諧振(也稱串并聯(lián)補(bǔ)償)的方法解決試驗(yàn)設(shè)備容量不足的問(wèn)題。
(1)串聯(lián)諧振(電壓諧振)法。當(dāng)試驗(yàn)變壓器的額定電壓不能滿足所需試驗(yàn)電壓,但電流能滿足被試品試驗(yàn)電流的情況下,可用串聯(lián)諧振的方法來(lái)解決試驗(yàn)電壓的不足。
(2)并聯(lián)諧振(電流諧振)法。當(dāng)試驗(yàn)變壓器的額定電壓能滿足試驗(yàn)電壓的要求,但電流達(dá)不到被試品所需的試驗(yàn)電流時(shí),可采用并聯(lián)諧振對(duì)電流加以補(bǔ)償,以解決試驗(yàn)電源容量不足的問(wèn)題。
(3)串并聯(lián)諧振法。除了以上的串聯(lián)、并聯(lián)諧振外,當(dāng)試驗(yàn)變壓器的額定電壓和額定電流都不能滿足試驗(yàn)要求時(shí),可同時(shí)運(yùn)用串、并聯(lián)諧振線路,也稱為串并聯(lián)補(bǔ)償法。
由電感線圈(可用電感L串電阻R模擬)和電容元件(電容量為C)串聯(lián)組成的電路中,當(dāng)感抗等于容抗時(shí)會(huì)產(chǎn)生電壓諧振,深入分析如下:
(1)當(dāng)L、C一定時(shí),電源的頻率f恰好等于電路的固有振蕩頻率,即f=1/(2π√LC)。
(2)當(dāng)電源頻率一定時(shí),調(diào)整電感量L,使L=1/[(2πf)2C]。
(3)當(dāng)電源頻率一定時(shí),調(diào)整電容量C,使C=1/[(2πf)2L]。在電感線圈(可用電感L串電阻R模擬)和電容元件(電容量為C)并聯(lián)組成的電路中,滿足下列條件之一,就會(huì)發(fā)生電流諧振。
(1)電源頻率f=1/2π√1/LC-R/L
(2)調(diào)整電容量,使C=L/[R2+(2πfL)2]
(3)當(dāng)2πfCR≤1時(shí),調(diào)節(jié)電感L也可能產(chǎn)生電流諧振。
進(jìn)行變壓器的串聯(lián)諧振耐壓試驗(yàn)時(shí),應(yīng)注意:
(1)應(yīng)該先調(diào)諧,再升壓。當(dāng)采用串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置時(shí),試驗(yàn)電壓的頻率應(yīng)不低于40Hz,全電壓下耐受時(shí)間為60s。試驗(yàn)時(shí),應(yīng)在較低的激磁電壓下調(diào)諧電感或頻率找諧振點(diǎn),當(dāng)被試品上電壓達(dá)到最高時(shí),即達(dá)到試驗(yàn)回路的諧振點(diǎn),可以開(kāi)始升壓進(jìn)行試驗(yàn)。
(2)諧振試驗(yàn)回路品質(zhì)因數(shù)Q值的高低與試驗(yàn)設(shè)備、試品絕緣表面干燥清潔程度及高壓引線直徑大小、長(zhǎng)短有關(guān),因此試驗(yàn)宜在天氣晴好的情況下進(jìn)行。試驗(yàn)設(shè)備、試品絕緣表面應(yīng)干燥、清潔。盡量縮短高壓引線的長(zhǎng)度,采用大直徑的高壓引線,以減小電暈損耗。提高試驗(yàn)回路品質(zhì)因數(shù)Q值。
耐壓試驗(yàn)時(shí),電力設(shè)備絕緣不合格的可能原因有:
(1)絕緣性能變壞。如變壓器油中進(jìn)入水分、固體絕緣受潮、絕緣老化等,都會(huì)導(dǎo)致絕緣性能下降,在耐壓試驗(yàn)時(shí)可能不合格。
(2)試驗(yàn)方法和電壓測(cè)量方法不正確。例如,進(jìn)行變壓器試驗(yàn)時(shí),未將非被試?yán)@組短接接地,非被試?yán)@組可能對(duì)地放電,誤判為不合格。再如,試驗(yàn)大容量試品時(shí),仍在低壓側(cè)測(cè)量電壓,由于容升效應(yīng),實(shí)際加在被試品上的電壓超過(guò)試驗(yàn)電壓,導(dǎo)致被試品擊穿,誤判為不合格。
(3)沒(méi)有正確地考慮影響絕緣特性的大氣條件。由于氣壓、溫度和濕度對(duì)火花放電電壓及擊穿電壓都有一定影響,若不考慮這些因素就可能導(dǎo)致設(shè)備不合格的結(jié)論。
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